12 - Ausbeute und Zuverlässigkeit/ClipID:19842 vorhergehender Clip

Schlüsselworte: bauelemente elektronische zuverlässigkeit ausfallmechanismen elektromigration temperatur wahrscheinlichkeit linienausbeute chips lebensdauer einflussfaktoren prozesskontrolle lognormalverteilung zeitpunkt ausfallrate ausbeutemodelle defektdichte
Aufnahme Datum 2020-07-17

Kurs-Verknüpfung

Prozessintegration und Bauelementearchitekturen

Lehrende(r)

PD Dr. Tobias Erlbacher

Zugang

IdM-Anmeldung / Passwort

Sprache

Deutsch

Einrichtung

Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente

Produzent

Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente

Format

Vorlesung

Typ

universitäre Vorlesung

Mehr Videos aus der Kategorie "Technische Fakultät"

6 - Theorie der Programmierung
2024-05-03
IdM-Anmeldung
geschützte Daten  
3 - Handhabungs- und Montagetechnik
2024-05-02
Studon
geschützte Daten  
3 - Grundlagen der Informatik
2024-05-03
Studon
geschützte Daten  
9 - Vorlesung Maschinenelemente II - Gestaltung von Getrieben und Umlaufrädergetrieben zusammen mit einer Zeichenübung
2024-05-03
Studon
geschützte Daten  
3 - Thinking in Frequency
2024-05-02
IdM-Anmeldung
geschützte Daten  
3 - Introduction to Software Engineering
2024-05-03
Frei
freie Daten